उच्च एवं निम्न तापमान (-40-150℃) गतिक मरोड़ थकान परीक्षण मशीन, टिकाऊ परीक्षण बेड

उच्च एवं निम्न तापमान (-40℃-150℃) गतिक मरोड़ थकान परीक्षण मशीन विभिन्न भागों एवं कंपोनेंट्स के मरोड़ थकान यांत्रिक गुणों, निश्चित बलाघूर्ण/निश्चित मरोड़ कोण परीक्षण तथा नमूनों के जीवन परीक्षण हेतु उपयुक्त है।...

कनेक्टर जीवन परीक्षण उपकरण, थक

कोई नहीं

उत्पाद परिचय ：

　　उच्च एवं निम्न तापमान (-40-150℃) गतिक मरोड़ थकान परीक्षण मशीन -40℃-150℃ तापमान पर विभिन्न भागों एवं कंपोनेंट्स के मरोड़ थकान यांत्रिक गुणों के परीक्षण, निश्चित बलाघूर्ण/निश्चित मरोड़ कोण पर मरोड़ थकान परीक्षण तथा नमूनों के जीवन परीक्षण हेतु उपयुक्त है। उच्च एवं निम्न तापमान वातावरण में परीक्षण नमूने का अधिकतम बलाघूर्ण, मरोड़ कोण, सामर्थ्य, बल-समय वक्र, विरूपण आयाम-आवृत्ति वक्र तथा साइन तरंग वक्र माइक्रोकंप्यूटर नियंत्रण द्वारा स्वतः पूर्ण किए जा सकते हैं, किसी एक पैरामीटर को अलग से भी मापा जा सकता है और परीक्षण रिपोर्ट प्रिंट की जा सकती है। उपयोगकर्ता उपयोग के दौरान वास्तविक आवश्यकताओं के अनुसार परीक्षण कार्यक्रम समायोजित कर सकते हैं और संचालन अत्यंत सुविधाजनक है। कंप्यूटर नियंत्रण प्रणाली के नियंत्रण एवं डेटा प्रसंस्करण की स्वचालितता तथा परीक्षण रिपोर्टों की विविधता से A4 कागज़ पर परीक्षण रिपोर्ट तैयार की जा सकती है।

उत्पाद विनिर्देश:

क्र.	पैरामीटर	विवरण
1	परीक्षण मशीन श्रेणी	क्लास 0.5
2	प्रकार	क्षैतिज
3	अधिकतम परीक्षण बल	100N.m, 200N.m, 500N.m, 1000N.m, 2000N.m, 5000N.m
4	परीक्षण बल पठन मान	0.01 N.m
5	मापन रेंज	1% - 100% FS
6	उच्च/निम्न तापमान उपकरण रेंज	-40°C से +150°C (समायोज्य)
7	आवृत्ति रेंज	0.01 - 50 Hz (50Hz तक)
8	परीक्षण बल संकेत की सापेक्ष त्रुटि	< ±0.5%
9	परीक्षण बल संकेत की पुनरावृत्ति त्रुटि	< 0.5%
10	बलाघूर्ण दिशा	धनात्मक एवं ऋणात्मक दिशाएँ
11	कोण मापन रेंज	0 - 360,000°
12	उच्च/निम्न तापमान आंतरिक आयाम	200mm बाहरी व्यास वाली पुली के लिए उपयुक्त
13	संरक्षण कार्य	अधिभार संरक्षण कार्य

कार्यात्मक विशेषताएँ

क्र.	विशेषता	विवरण
1	रिपोर्ट आउटपुट	प्रायोगिक रिपोर्ट तैयार एवं आउटपुट की जा सकती हैं।
2	आवृत्ति समर्थन	सॉफ़्टवेयर 0.01-50Hz की परीक्षण आवृत्ति का समर्थन करता है; वास्तविक आवृत्ति नमूने के विरूपण के आधार पर बदलती है (अधिक विरूपण पर आवृत्ति घटती है)।
3	परीक्षण प्रक्रिया	मापन, डिस्प्ले एवं विश्लेषण सहित पूरी परीक्षण प्रक्रिया माइक्रोकंप्यूटर द्वारा नियंत्रित होती है।
4	सॉफ़्टवेयर इंटरफ़ेस	चीनी विंडोज़ उपयोगकर्ता इंटरफ़ेस, जिसमें सरल एवं सुविधाजनक मेनू संकेत तथा माउस चयन उपलब्ध है।
5	डिस्प्ले मोड	परीक्षण के दौरान डेटा एवं वक्र वास्तविक समय में गतिक रूप से प्रदर्शित होते हैं।
6	डेटा प्रबंधन	प्रायोगिक डेटा को डेटाबेस का उपयोग करके प्रबंधित किया जाता है, जिससे क्वेरी एवं रखरखाव सरल होता है।
7	समायोज्य आवृत्ति	परीक्षण आवृत्ति आवश्यकतानुसार समायोजित की जा सकती है।
8	परीक्षण चक्र	परीक्षण चक्रों की संख्या पूर्वनिर्धारित की जा सकती है।
9	स्वचालित संचालन	परीक्षण पैरामीटर दर्ज करके पूरी परीक्षण प्रक्रिया स्वतः पूरी की जा सकती है।
10	स्वचालित रोक	पूर्वनिर्धारित परीक्षण चक्र संख्या पूरी होने पर मशीन स्वतः रुक जाती है।
11	बल क्षय पर रोक	बल क्षय पूर्वनिर्धारित मान तक पहुँचने पर मशीन रुक जाती है।
12	गतिक वक्र	परीक्षण के दौरान परीक्षण वक्र गतिक रूप से प्रदर्शित होते हैं।
13	परीक्षण रिपोर्ट	परीक्षण रिपोर्ट तैयार करता है, जिसे प्रिंट एवं संचित किया जा सकता है।